《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志影響因子是1.7。
IF值(影響因子)趨勢圖
查詢期刊影響因子的方法有多種，以下是一些建議的途徑：
1、官方網站查詢：訪問Web of Science的官方網站，該網站提供了全面的期刊影響因子數據。
2、通過 SCI 或 SSCI 數據庫查詢：SCI或SSCI數據庫通常每年6月更新影響因子數據，建議查詢最新年份的數據以獲取準確結果。
3、通過 JCR 數據庫查詢：JCR是科睿唯安發(fā)布的期刊評價報告，提供權威的影響因子排名。
《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志基本信息
出版商：IOS Press
出版國家或地區(qū)：NETHERLANDS
ISSN：0895-3996，ESSN：1095-9114
出版語言：English
出版周期：Quarterly
OA開放訪問：未開放
《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志排名與分區(qū)
JCR（Journal Citation Reports）分區(qū)：Q3（ 按JIF指標學科分區(qū)學科： INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION分區(qū)：Q3OPTICS分區(qū)：Q3PHYSICS, APPLIED分區(qū)：Q3 ，按JCI指標學科分區(qū)學科： INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION分區(qū)：Q2OPTICS分區(qū)：Q2PHYSICS, APPLIED分區(qū)：Q2 ）
中科院分區(qū)大類學科：醫(yī)學3區(qū)，小類學科：儀器儀表 3區(qū)光學 3區(qū)物理：應用 3區(qū)。
《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志文獻計量指標
CiteScore數值：4.9
SJR：0.501
SNIP：0.791
h-index：28
Gold OA文章占比：5.91%
平均審稿速度預計： 約3.0個月
中科院JCR分區(qū)趨勢圖
